MSE81 版 (精华区)

发信人: asdli (从头开始), 信区: MSE81       
标  题: 请教一下SEM打能谱的问题
发信站: BBS 听涛站 (Mon May 10 15:04:14 2004), 转信


有好几个样品想测试元素的浓度深度分布
测试深度约300纳米，元素为O Al Cu Ti Ar
能否用SEM打能谱？样品制备需要注意什么？必须掰断了测截面吗？
截面的平整度要求高不高？为避免碰到探头是否还要保证样品截面的高度一样？

哪位帮个忙吧，谢谢了
--

流泪撒种的，必欢呼收割。
那带种流泪出去的，必要欢欢乐乐地带禾捆回来


※ 来源:·BBS 听涛站 tingtao.net·[FROM: 166.111.36.249]