MSE81 版 (精华区)

发信人: free (怀念奶奶~), 信区: MSE81       
标  题: Re: 请教一下SEM打能谱的问题
发信站: BBS 听涛站 (Mon May 10 16:42:34 2004), 转信


【 在 asdli (从头开始) 的大作中提到: 】

有好几个样品想测试元素的浓度深度分布

                            深度怎么用能谱

测试深度约300纳米，元素为O Al Cu Ti Ar
能否用SEM打能谱？样品制备需要注意什么？必须掰断了测截面吗？

   应该可以，不需要截面，只要表面平整一点就行了

截面的平整度要求高不高？为避免碰到探头是否还要保证样品截面的高度一样？

   高度最好一致，实在不行就从低到高排列

哪位帮个忙吧，谢谢了
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流泪撒种的，必欢呼收割。
那带种流泪出去的，必要欢欢乐乐地带禾捆回来




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   对这个世界来说，你可能只是一个人。
   但对某个人来说，你可能就是整个世界! 


※ 来源:·BBS 听涛站 tingtao.net·[FROM: 166.111.38.203]