MSE81 版 (精华区)

发信人: so (幸福生活（快快乐乐每一天）), 信区: MSE81       
标  题: Re: 请教一下SEM打能谱的问题
发信站: BBS 听涛站 (Tue May 11 20:06:18 2004), 转信

偶记得俄歇谱似乎可以测元素深度分布

【 在 asdli (从头开始) 的大作中提到: 】
: 有好几个样品想测试元素的浓度深度分布
: 测试深度约300纳米，元素为O Al Cu Ti Ar
: 能否用SEM打能谱？样品制备需要注意什么？必须掰断了测截面吗？
: 截面的平整度要求高不高？为避免碰到探头是否还要保证样品截面的高度一样？
: 哪位帮个忙吧，谢谢了


--

※ 来源:·BBS 听涛站 tingtao.net·[FROM: 166.111.39.24]