MSE81 版 (精华区)
发信人: hw (懒妖，啊！), 信区: MSE81
标 题: Re: 请教一下SEM打能谱的问题
发信站: BBS 听涛站 (Wed May 12 09:50:32 2004), 转信
推荐一篇文章:曹则贤 <<材料化学分析的物理方法(I)>>
<<物理>>杂志, vol33(4), 2004, p282
介绍了 XPS, AES, EDX & WDX, EELS 等基于电子能级的分析方法
包括机理, 优缺点和适用范围.
文章不长, 但讲的清晰, 向众家做实验的xdjm推荐 :)
【 在 asdli (从头开始) 的大作中提到: 】
: 有好几个样品想测试元素的浓度深度分布
: 测试深度约300纳米，元素为O Al Cu Ti Ar
: 能否用SEM打能谱？样品制备需要注意什么？必须掰断了测截面吗？
: 截面的平整度要求高不高？为避免碰到探头是否还要保证样品截面的高度一样？
: 哪位帮个忙吧，谢谢了
--
我双手烤着
生命之火取暖；
火萎了，
我也准备走了。
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